山梨大学
大学院 総合研究部 工学域
機械工学系(情報メカトロ二クス工学)

准教授

金 蓮花

キン レンカ
Jin Lianhua

経歴

  1. 東京農工大学ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー 研究員 2002/04/01
  2. 成蹊大学 理工学部 物質生命理工学科 助手 2004/04/01
  3. 芝浦工業大学 電気工学科 非常勤講師(兼任) 2006/04/01
  4. 山梨大学大学院 医学工学総合研究部 情報システム工学科 准教授 2008/04/01

学位

  1. 博士(工学) 東京農工大学 2001/03

研究分野

  1. 応用光学・量子光工学

研究キーワード

  1. ポーラスシリコン,光散乱,偏光,複屈折,エリプソメトリー,電気光学結晶,光変調器,光3次元計測

研究テーマ

  1. ナノシリコン結晶発光素子の開発
  2. 高分解能・高精度イメジングエリプソメータの開発
  3. デバイスの光学特性評価方法の開発
  4. ラフな面における光学特性の評価

著書

  1. Kevin Harding Toru Yoshizawa,Lianhua Jin - Taylor & Francis 2013/02/01
  2. Chapter 9 Moire Metrology L. Jin - Taylor & Francis Group 2008/12/01
  3. 第1章第2節第2項 光の評価・測定 滝沢國治,金 蓮花 - 情報機構 2008/11/01
  4. 4.2 モアレ方式 金 蓮花 - 朝倉書店 2006/11/01

論文

  1. 研究論文(学術雑誌) 共著 Rotatable Offner imaging system for ellipsometric measurement L. Jin,T. Tanaka,E. Kondoh,B. Gelloz,K. Sano,I. Fujio,Y. Kajiyama,M. Uehara Review of Scientific Instruments 88, 1-7 2017/01 0034-6748 10.1063/1.4973778
  2. 研究論文(学術雑誌) 共著 Optical absorption and quantum confinement in porous silicon nanostructures studied by chemical dissolution in HF solutions and photoconduction B. Gelloz,K. Ichimura,H. Fuwa,E. Kondoh,L. Jin ECS Journal of Solid State Science and Technology 6/ 1, R1-R6 2016/12 2162-8769 10.1149/2.0321612jss
  3. 研究論文(学術雑誌) 共著 Polarization characteristics of diffraction scattering from metal rough surface L. Jin, T. Taguchi, E. Kondoh, and B. Gelloz Applied Surface Science 2016/10 0169-4332 10.1016/j.apsusc.2016.10.142
  4. 研究論文(学術雑誌) 共著 In situ ellipsometry of Cu surfaces immersed in benzotriazole–hydrogen peroxide solutions E. Kondoh,T. Kawakami,M. Watanabe,L. Jin,S. Hamada,S. Shima,H. Hiyama Japanese Journal of Applied Physics 55, 06JG0-36 2016/05 0021-4922 10.7567/JJAP. 55. 06JG03
  5. 研究論文(学術雑誌) 共著 Extraction of polarization properties of the individual components of a layered system by using spectroscopic Mueller matrix analysis L. Jin,D. Kobayashi,E. Kondoh,H. Kowa,B. Gelloz Optics Express 24/ 9, 9757-9765 2016/04 1094-4087 10.1364/OE.24.0

研究発表

  1. 口頭発表(一般) イメージングエリプソメトリーにおける偏光素子の誤差解析 第64回応用物理学会春季学術講演会 2017/03/17
  2. 口頭発表(一般) 多重反射干渉法の測定限界 第64回応用物理学会春季学術講演会 2017/03/17
  3. ポスター発表 Porosity Dependence of the Absorption Coefficient and Quantum Confinement of Porous Silicon Nanostructures in HF Solutions 第64回応用物理学会春季学術講演会 2017/03/16
  4. ポスター発表 ラフな表面における散乱光の偏光特性の波長依存性 第64回応用物理学会春季学術講演会 2017/03/15
  5. 口頭発表(招待・特別) Extraction method of polarization properties of the individual components of a layered system and its application International Symposium on Optomechtronic Technology 2016/11/07

知的財産権

  1. 特許 誤差補正方法及び二次元偏光解析法、並びに誤差補正装置及び二次元偏光解析装置 2017-27524 2017/02/17
  2. 特許 光学特性の測定方法及び光学特性の測定装置 2015-122819 2015/06/18
  3. 特許 光学特性の測定方法及び光学特性の測定装置 2014-016281 2014/01/31

受賞

  1. 山梨大学 平成27年度優秀教員奨励制度(研究特別奨励賞) 2016/05

所属学協会

  1. 一般社団法人日本光学会 2015
  2. 精密工学会 2013
  3. SPIE 2009
  4. 応用物理学会 2002

学外委員

  1. 偏光計測・制御技術研究グループ 委員 2013/04
  2. 日本光学会 幹事 2013/04/01-2016/03/31
  3. 精密工学会 学術交流会委員会 委員 2012/04-2016/03
  4. メカノフォトニクス専門委員会 委員 2009/01
  5. 日本光学会 光科学及び光技術調査委員会 委員 2007/04-2010/03